メッキQ&A
測定子(プローブ)をめっき面にあてて、測定子に高
周波電流を流し、めっき表面部に渦電流(渦巻電流)を
生じさせ、電導度、厚さ、形状などによって変化する渦
電量を測定し、めっきの厚さを求める方法である。
素地とめっきの組合せによって、測定不可能な場合が
ある。
素地の厚さ、めっきの厚さによって測定子を選択しなけ
ればならない。
測定精度に影響するのは、めっき厚さ、表面粗さ、素地の
金属の厚さ、形状、磁気的性質、エッジ効果であり、選択
したプローブごとに予備調整および校正を行う。
JIS H 8601「めっき厚さ試験方法」参照。